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Präzisions-LCR-Digitalbrückenmessgerät 10 Hz bis 1 MHz Komponenten-Impedanzanalysator

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Präzisions-LCR-Digitalbrückenmessgerät 10 Hz bis 1 MHz Komponenten-Impedanzanalysator

Artikelnummer : CD10

Preis variiert je nach Spezifikationen und Anpassungen


Testfrequenzbereich
10 Hz – 1 MHz (kontinuierlich, 1 mHz Auflösung)
Grundmessgenauigkeit
0,05 %
Maximale Messgeschwindigkeit
Bis zu 200 Messungen/Sek. (≥1 kHz)
ISO & CE icon

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Dieses Präzisions-Digital-LCR-Brückenmessgerät ist ein fortschrittlicher Analysator für elektronische Komponenten und Materialparameter, der auf dem Prinzip der selbstabgleichenden Brücke basiert. Mit einem kontinuierlich einstellbaren Testfrequenzspektrum von 10 Hz bis 1 MHz, einer Basismessgenauigkeit von 0,05 % und einer Anzeigeauflösung von 6,5 Stellen liefert dieses System eine Impedanzcharakterisierung auf messtechnischem Niveau. Die Architektur integriert eine automatische Pegelregelung (ALC), Mehrfrequenz-Listensweeps und eine automatisierte Sortierung (Binning), um eine vollständige, reproduzierbare und hochauflösende Datenerfassung aller grundlegenden passiven Parameter zu gewährleisten.

Das für anspruchsvolle Umgebungen entwickelte Instrument dient als zentrales Analysewerkzeug in der Materialforschung, bei der Profilierung dielektrischer Eigenschaften, bei Studien zur Impedanz von Batterieelektroden und bei der Validierung von Halbleiterkomponenten. Es ist gleichermaßen effizient in automatisierten Produktionslinien und bei der Wareneingangsprüfung (IQC) einsetzbar, wo hoher Durchsatz und zuverlässige Klassifizierung von größter Bedeutung sind. Das System schließt die Lücke zwischen präzisen analytischen Fähigkeiten auf Laborniveau und den Anforderungen der industriellen Hochgeschwindigkeitsfertigung.

Ausgestattet mit erstklassigen industriellen Festkörperschaltungen, umschaltbaren Signalquellenimpedanzen (30 Ω und 100 Ω) sowie umfassenden Open/Short/Load-Kalibrierungsroutinen mit 256-Punkt-Frequenzkorrektur, behält dieses Gerät eine überlegene Messstabilität bei. Selbst in Umgebungen, die elektromagnetischem Rauschen und thermischer Drift unterliegen, liefert das Gerät stabile, reproduzierbare Ergebnisse, was es zu einem unverzichtbaren Bestandteil für Ingenieurlabore und Qualitätssicherungsabteilungen macht.

Hauptmerkmale

  • Kernarchitektur der selbstabgleichenden Brücke: Liefert eine außergewöhnliche Grundgenauigkeit von 0,05 % und eine Messauflösung von 6,5 Stellen über ein breites dynamisches Impedanzspektrum, was eine exakte Datentreue für Forschung und Produktion garantiert.
  • Kontinuierlicher Breitband-Frequenzbereich: Bietet eine kontinuierliche Frequenzabdeckung von 10 Hz bis 1 MHz mit einer Auflösung von 1 mHz und einer Frequenzgenauigkeit von 0,01 %, was eine fein abgestufte Resonanzverfolgung und frequenzabhängige Komponentenmodellierung ermöglicht.
  • Hochdurchsatz-Erfassungs-Engine: Erreicht Messwerterfassungsraten von bis zu 200 Messungen pro Sekunde (bei Testfrequenzen ≥1 kHz) und einen schnellen 20-ms-Zyklus (bei ≥100 Hz), was eine nahtlose Integration in automatisierte Hochgeschwindigkeitssortiersysteme erleichtert.
  • Umfassende Mehrparameter-Charakterisierung: Bewertet gleichzeitig 20 verschiedene Parameterkombinationen, einschließlich Induktivität (Lp, Ls), Kapazität (Cp, Cs), Widerstand (Rp, Rs), Impedanz (|Z|, Xs), Admittanz (|Y|, G, B), Phasenwinkel (θr, θd), Verlustfaktor (D) und Gütefaktor (Q).
  • Integrierte duale DC-Bias-Funktionen: Verfügt über eine interne programmierbare DC-Bias-Quelle, die eine Spannungs-Vorspannung von -2 V bis +2 V und eine Strom-Vorspannung von -20 mA bis +20 mA liefert, sowie Unterstützung für externe DC-Bias-Eingänge bis zu ±60 V für die Prüfung aktiver Halbleiter und polarisierter Dielektrika.
  • Dynamische automatische Pegelregelung (ALC): Reguliert und stabilisiert aktiv die Anregungssignalspannungen (0 bis 2 Vrms) und -ströme (100 μArms bis 20 mArms), verhindert eine Überlastung des Prüflings (DUT) und hält konstante Ansteuerungspegel aufrecht.
  • 10-Punkt-Mehrfrequenz-Listensweep: Führt automatisierte sequentielle Tests über 10 benutzerdefinierte Frequenz-, Spannungs- oder Stromschritte aus, um dynamische Antwortkurven und Frequenzdispersionseigenschaften schnell zu erfassen.
  • 10-Bin-Sortierung und statistischer Komparator: Verfügt über einen eingebauten Mehrkanal-Komparator mit 8 Pass-Bins, 1 Fail-Bin und 1 Hilfs-Bin, gekoppelt mit Echtzeitzählung, um die Qualitätsbewertung und Komponentensortierung zu rationalisieren.
  • Lebendige 7-Zoll-Zweisprachen-Schnittstelle: Ausgestattet mit einem 800×480 TFT-LCD, das sowohl englische als auch chinesische Bedienmenüs unterstützt und klare Parameteranzeigen, Balkendiagramme und eine intuitive Bedienung bietet.
  • Vollständiges industrielles Kommunikations-Array: Standardisiert mit GPIB, Ethernet LAN, RS232C, USB-Host, USB-Device und opto-isolierten Handler-Schnittstellen, um Fernautomatisierung und vollständige SCADA/PLC-Integration zu ermöglichen.

Anwendungen

Anwendung Beschreibung Hauptvorteil
Fortgeschrittene Material- & Dielektrikumsforschung Charakterisierung von Dielektrizitätskonstante, Verlustfaktor und Impedanzspektren neuartiger Keramiken, Polymere und Festelektrolyte. Der breite Sweep-Bereich von 10 Hz bis 1 MHz identifiziert Phasenübergänge, Relaxationsmechanismen und Grenzschichtimpedanzen.
Batterie- & Energiespeicherbewertung Bewertung des Innenwiderstands (ESR), der Kontaktimpedanz und der Grenzflächenkapazität von Batterieseparatoren und Elektrodenfolien. Niederfrequenzstabilität und 1 mHz Auflösung isolieren den Grenzflächen-Ladungstransferwiderstand von der Leitfähigkeit des Elektrolyten.
Qualitätssicherung passiver Präzisionskomponenten Hochgeschwindigkeitstests und automatisierte Sortierung von Vielschicht-Keramikkondensatoren (MLCC), Präzisionswiderständen und Folienkondensatoren. 200 Messungen/s Erfassungsgeschwindigkeit und 10-Bin-Komparator maximieren den Durchsatz bei der Wareneingangsprüfung und Produktionssortierung.
Magnetkern- & Induktivitäts-Profilierung Messung des Gütefaktors (Q), der Induktivität (Ls/Lp) und des AC-Widerstands bei variablen Anregungsströmen und internem DC-Bias. Programmierbare interne und externe DC-Bias-Ströme ermöglichen Sättigungs- und Permeabilitätsanalysen unter realistischen Betriebsbedingungen.
Halbleiter- & Sensorcharakterisierung Impedanzanalyse von Varaktoren, Dioden, piezoelektrischen Wandlern und MEMS-Bauteilen unter variablen DC-Bias-Potenzialen. Externe Bias-Unterstützung bis ±60 V ermöglicht umfassende C-V-Profilierung und Sperrschichtkapazitätsmessungen.
Automatisierte SMT-Produktionslinien Inline-automatisierte Tests und Echtzeit-Pass/Fail-Screening, direkt verbunden mit Bestückungsautomaten über industrielle Busprotokolle. Standard-Handler-, GPIB- und LAN-Schnittstellen bieten störungsfreie Signalisierung im Sub-Millisekundenbereich für die Fabrikautomatisierung.

Technische Spezifikationen

Parameter Spezifikationsdetails
Basis-Produktkennung CD10
Varianten-Modelloptionen CD10-01 (10 Hz – 100 kHz)
CD10-02 (10 Hz – 200 kHz)
CD10-03 (10 Hz – 300 kHz)
CD10-05 (10 Hz – 500 kHz)
CD10-10 (10 Hz – 1 MHz)
Frequenzauflösung & Genauigkeit 1 mHz Auflösung, 0,01 % Genauigkeit
Grundlegende Messgenauigkeit 0,05 %
Anzeigeauflösung 6½ Stellen (6,5 Stellen)
Messparameter Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Rs-Xs, |Z|-θr, |Z|-θd, |Y|-θr, |Y|-θd, G-B
Messgeschwindigkeit (≥100 Hz) Schnell: 50 Messungen/s (20 ms)
Mittel: 10 Messungen/s (100 ms)
Langsam: 1,25 Messungen/s (800 ms)
Benutzerdefinierte Messgeschwindigkeit (≥1 kHz) Benutzerprogrammierbar von 0,5 Messungen/s bis 200 Messungen/s
Kapazitätsanzeigebereich (Cp, Cs) 0,001000 pF bis 99,9999 F
Induktivitätsanzeigebereich (Lp, Ls) 0,001000 nH bis 99,9999 kH
Widerstands- & Impedanzbereich (Rp, Rs, |Z|, Xs) 0,001000 mΩ bis 999,999 MΩ
Leitwert- & Admittanzbereich (G, B, |Y|) 0,001000 μS bis 999,999 kS
Phasenwinkelbereich (θr / θd) θr: ±0,000001 rad bis 3,14159 rad
θd: ±0,000001 deg bis 179,9999 deg
Verlustfaktor (D) & Gütefaktor (Q) Bereich D: ±0,000001 bis 9,99999
Q: ±0,001 bis 99999,9
Testsignal-Spannungsbereich 0 bis 2,0 Vrms (Auflösung: 1 mV, Genauigkeit: 5 % + 5 mV)
Testsignal-Strombereich 100 μArms bis 20 mArms (Auflösung: 10 μA, Genauigkeit: 5 % + 50 μA)
Interne DC-Bias-Quelle Spannung: -2,0 V bis +2,0 V
Strom: -20,0 mA bis +20,0 mA
Externer DC-Bias-Eingang -60,0 V bis +60,0 V
Ausgangsimpedanz der Signalquelle Wählbar 30 Ω oder 100 Ω
Komparator- & Sortierfunktion 10 Bins: 8 Pass-Bins, 1 Fail-Bin, 1 Hilfs-Bin mit statistischer Zählung
Mathematische Operationen Direktablesung, Delta (Absolutwertdifferenz), Delta% (Prozentuale Differenz)
Kalibrierung & Korrektur Selbstkalibrierung, Leerlauf, Kurzschluss, Lastkorrektur, 100 Benutzerfrequenzpunkte, 256 dedizierte Frequenzkorrektursets
Listen-Sweep-Funktion 10-Punkt programmierbarer Mehrparameter-Listensweep
Anzeigebildschirm 7,0-Zoll TFT LCD (800 × 480 Auflösung), chinesische/englische Schnittstelle
Speicher & Datenspeicherung Interner nichtflüchtiger Speicher und Unterstützung für USB-Massenspeicher
Fernsteuerungsschnittstellen GPIB, Ethernet (LAN), RS232C, USB-Host, USB-Device, Handler
Stromversorgungsanforderungen 220 V AC ±10 %, 50 Hz
Stromverbrauch < 20 W
Betriebstemperaturbereich 0 °C bis 40 °C
Physikalische Abmessungen (B × T × H) 330 mm × 285 mm × 136 mm
Nettogewicht 3,6 kg

Warum dieses Produkt wählen?

  • Präzisionsmesstechnik: Entwickelt mit einem selbstabgleichenden Brückenkern, der eine Grundmessgenauigkeit von 0,05 % und eine Auflösung von 6,5 Stellen liefert, was absolutes Vertrauen in Forschungs- und kommerzielle Daten bietet.
  • Vollständige Frequenzskalierbarkeit: Verfügbar in flexiblen Bandbreitenoptionen von 100 kHz bis 1 MHz mit 1 mHz Auflösung, was es Organisationen ermöglicht, den präzisen Frequenzbereich auszuwählen, der auf ihr Laborbudget und ihre Anwendungsanforderungen zugeschnitten ist.
  • Bereit für die automatisierte Fertigung: Mit Erfassungsgeschwindigkeiten von bis zu 200 Messwerten pro Sekunde, 10-Bin-Hardware-Sortierung und Standard-Handler/GPIB-Konnektivität lässt sich dieses System mühelos in Hochvolumen-Komponententeststationen integrieren.
  • Umfassende DC-Bias- & ALC-Steuerung: Integrierte interne Vorspannung, externe 60V-Bias-Fähigkeit und dynamische Pegelregelung gewährleisten stabile Tests empfindlicher Halbleiter, Kondensatoren und induktiver Komponenten unter realistischen Betriebsbelastungen.
  • Zuverlässiger langfristiger Support: Unterstützt durch KINTEKs technische Expertise in der Materialprüfung und Laborinstrumentierung, was eine reaktionsschnelle Anwendungsberatung, Kalibrierungsunterstützung und langfristige Hardwarezuverlässigkeit sicherstellt.

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